半導體清洗工藝詳解超純水如何成為芯片製造的
半導體(ti) 清洗工藝詳解:超純水如何成為(wei) 芯片製造的“隱形守護者”
在半導體(ti) 製造領域,清洗工藝是決(jue) 定芯片性能與(yu) 良率的關(guan) 鍵環節。作為(wei) 超純水設備專(zhuan) 業(ye) 製造商,滲源深知超純水質量對半導體(ti) 清洗效果的決(jue) 定性影響。本文將深入解析半導體(ti) 清洗工藝中超純水的關(guan) 鍵作用,以及滲源如何為(wei) 行業(ye) 提供可靠的水質解決(jue) 方案。

半導體(ti) 清洗工藝的重要性
半導體(ti) 製造過程中,晶圓表麵即使存在納米級的微粒汙染物或微量離子殘留,都可能導致電路短路、漏電或氧化層缺陷。據統計,超過50%的芯片失效與(yu) 清洗工藝相關(guan) 。因此,清洗工序約占整個(ge) 芯片製造步驟的30%,是半導體(ti) 生產(chan) 中最頻繁進行的操作。
超純水在半導體(ti) 清洗中的核心作用
超純水作為(wei) 半導體(ti) 清洗的主要介質,承擔著以下關(guan) 鍵任務:
顆粒汙染物去除:超純水通過物理衝(chong) 洗作用去除晶圓表麵的微粒汙染物,其純度直接決(jue) 定了清洗效果
化學殘留物清除:在SC1、SC2等標準清洗步驟後,超純水負責徹底清除化學試劑殘留
表麵預處理:為(wei) 光刻、蝕刻等後續工藝提供潔淨的表麵環境
設備清潔:用於(yu) 清洗製造設備內(nei) 部,防止交叉汙染
半導體(ti) 級超純水的嚴(yan) 格標準
《中國電子級水標準 GB/T11446.1—2013 EW-I》
半導體(ti) 製造對超純水的要求極為(wei) 嚴(yan) 苛,需滿足以下指標:
電阻率:≥18.2MΩ.cm
全矽:≤2ppb
微顆粒物>0.05μm:500個(ge) /L
細菌個(ge) 數:≤0.01cfu/ml
TOC≤20ppb
陰離子:≤1ppb
金屬離子:≤0.5ppb
滲源超純水係統的技術優(you) 勢
針對半導體(ti) 行業(ye) 的特殊需求,滲源開發了專(zhuan) 門適用於(yu) 半導體(ti) 清洗的超純水係統:
多級純化工藝:采用RO+EDI+拋光混床的全流程處理方案,確保穩定產(chan) 出18.2MΩ·cm超純水
TOC專(zhuan) 項去除技術:通過185nm+254nm雙波長紫外氧化技術,有效控製TOC含量≤3ppb
納米級過濾係統:配備0.1μm超濾裝置,有效去除微小顆粒物
閉路循環設計:采用無死循環路係統,防止二次汙染,確保水質穩定
智能監控係統:實時監測水質變化,自動調節運行參數,保證水質持續達標
作為(wei) 半導體(ti) 製造的關(guan) 鍵支撐,超純水質量直接影響芯片性能與(yu) 生產(chan) 成本。滲源憑借多年的技術積累和行業(ye) 經驗,為(wei) 半導體(ti) 企業(ye) 提供穩定可靠的超純水解決(jue) 方案。
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